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電阻式存儲(chǔ)器為邊緣AI提供了受生物啟發(fā)的架構(gòu)
近年來，在腦啟發(fā)計(jì)算領(lǐng)域的研究活動(dòng)獲得了巨大的發(fā)展。主要原因是試圖超越傳統(tǒng)的馮·諾依曼架構(gòu)的局限性，后者越來越受存儲(chǔ)器-邏輯通信的帶寬和等待時(shí)間的局限性影響。在神經(jīng)形態(tài)架構(gòu)中，內(nèi)存是分布式的，可以與邏輯共定位。鑒于新的電阻式存儲(chǔ)器技術(shù)可以集成在CMOS工藝的互連層中，因此可以輕松地提供這種可能性。
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自動(dòng)化C測試用例以進(jìn)行嵌入式系統(tǒng)驗(yàn)證
隨著片上系統(tǒng)（SoC）設(shè)計(jì)的發(fā)展，其復(fù)雜性越來越高，包含數(shù)千行用于系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證的代碼的測試套件繼續(xù)由人手工編寫，這是一個(gè)古老的傳統(tǒng)，無效的做法無視諺語“自動(dòng)化只要有可能。” 對(duì)于在SoC的嵌入式處理器上運(yùn)行以在制造之前驗(yàn)證整個(gè)設(shè)備的C測試而言，尤其如此。
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微控制器以高分辨率將頻率轉(zhuǎn)換為電壓
當(dāng)您需要將測量信號(hào)從數(shù)字域轉(zhuǎn)換為模擬域時(shí)，此設(shè)計(jì)是僅需兩個(gè)芯片的合適解決方案。頻率到電壓的轉(zhuǎn)換在儀器電路中有許多應(yīng)用。
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管理互連密度和信號(hào)噪聲
經(jīng)驗(yàn)豐富的PCB設(shè)計(jì)人員，那么您將了解“ 3W”規(guī)則，該規(guī)則規(guī)定走線之間的間距應(yīng)始終至少為每條走線寬度的3倍
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基于標(biāo)準(zhǔn)的開發(fā)實(shí)踐
但是標(biāo)準(zhǔn)支持最佳實(shí)踐，因?yàn)榻?jīng)驗(yàn)表明，它們代表了獲得高質(zhì)量，可靠和強(qiáng)大的軟件的最有效方法。
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